青島隔膜數字顯示壓力表

本文章主要介紹了：青島隔膜數字顯示壓力表,濟南數字壓力表設計方案,數字壓力表等信息

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北京賽斯頓科技有限公司位于北京通州區中關村科技園區金橋科技產業基地，致力于通過提供壓力和溫度領域內的精準計量儀器，為客戶提供更精準的產品和服務。公司的產品形成了包括壓力表校驗臺，標準數字壓力表、智能壓力校驗儀、智能干體式溫度校驗爐、黑體輻射源、熱工儀表校驗儀等多個壓力，溫度校驗產品系列。賽斯頓儀器品質保證，對每一位客戶都做到售后無憂，因為專注，所以專業！
(青島隔膜數字顯示壓力表)

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膜盒敏感元件由兩塊對扣在一起的呈圓形波浪截面的膜片組成。測量介質的壓力作用在膜盒腔內側，由此所產生的變形可用來間接測量介質的壓力。壓力值的大小由指針顯示。膜盒壓力表一般用來測量氣體的微壓，并具有一定程度的過壓保護能力。幾個膜盒敏感元件疊在一起后會產生較大的傳遞力來測量極微小的壓力。膜盒壓力表的壓力測量范圍在250~60000Pa。壓力表作為一種以彈性元素為敏感元件的壓力測量儀表，自進行研發與應用以來，憑借準確性高、檢測方便、操作簡單的技術優勢，在工業領域中的應用十分廣泛。由于壓力表在工業領域中主要用于重要環節檢測，使得壓力表一旦發生計量檢定不準確的問題，難免會對工業領域生產的穩定性與安全性產生較大影響。在壓力表的進一步應用與推廣下，壓力表計量檢定的準確性受到了廣泛關注，如何對壓力表進行正確的計量檢定及其校準，是壓力表發展過程中十分突出的問題。
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◆最小可控調節度:10Pa
◆外形尺寸：（300×300×220）mm
◆重量:7.5kg
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隔膜壓力表采用間接測量結構，適用于測量粘度大、易結晶、腐蝕性大、溫度較高的液體、氣體或顆粒狀固體介質的壓力。隔離膜片有多種材料，以適應各種不同腐蝕性介質。儀表適用于化學工業、化纖、合成纖維、石油、染化、制堿等工業,并有各種材質的隔離膜片及各種接口形式以供不同的工礦條件選用
尋烏縣Y-150雙針指示壓力表
WSSX-414，WSSX-404，WSSX-483，WSSX-413，WSSX-403，WSSX-482，WZPK-124U，WZPK-406U，WZPK-503U
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微波器件測量手冊：矢量網絡分析儀高級測量技術指南 作者： 喬爾P.敦思摩爾（JoelP.Dunsmore）著陳新，等譯 出版時間： 2014 內容簡介 本書是當今射頻和微波器件測量領域的一本實用參考手冊和工具書，討論了最先進的射頻微波器件測量技術及最佳的測量實踐。本書前面的章節先引入一些基本概念，接著在后續章節深入探討各種有源和無源器件的測量與應用案例，讓讀者能夠全面了解微波器件測量的重要細節，向用戶提供了一套全新的見解，指引用戶通過實踐了解被測器件的真實特性。它的實用性還在于向讀者介紹了如何找到最優化的測量設置方法、如何把現代化矢量網絡分析儀的強大功能應用到最大的極限，以及如何在測量結果中去除測量設備可能對被測器件特性的影響。 目錄 第1章微波測量簡介 1．1一般的測量流程 1．2實際的測量重點 1．3微波參數的定義 1．3．1初步認識S參數 1．3．2網絡的相位響應 1．4功率參數 1．4．1入射功率和反射功率 1．4．2資用功率（availablepower） 1．4．3負載功率 1．4．4網絡資用功率 1．4．5資用增益 1．5噪聲系數和噪聲參數 1．5．1噪聲溫度 1．5．2有效輸入噪聲溫度（超噪溫度） 1．5．3超噪功率與工作溫度 1．5．4噪聲功率密度 1．5．5噪聲參數 1．6失真參數 1．6．1諧波 1．6．2二階截斷點 1．6．3雙音互調失真 1．7微波元器件的特性 1．8無源微波器件 1．8．1電纜，連接器和傳輸線 1．8．2連接器 1．8．3非同軸傳輸線 1．9濾波器 1．10定向耦合器 1．11環形器和隔離器 1．12天線 1．13PCB組件 1．13．1SMT電阻 1．13．2SMT電容 1．13．3SMT電感 1．13．4PCB過孔 1．14有源微波器件 1．14．1線性和非線性 1．14．2放大器：系統放大器，低噪聲放大器和大功率放大器 1．14．3混頻器和變頻器 1．14．4N倍頻器，限幅器和分頻器 1．14．5振蕩器 1．15測量儀表 1．15．1功率計 1．15．2信號源 1．15．3頻譜分析儀 1．15．4矢量信號分析儀 1．15．5噪聲系數分析儀 1．15．6網絡分析儀 參考文獻 第2章矢量網絡分析儀測量系統 2．1矢量網絡分析儀測量系統簡介 2．2矢量網絡分析儀的結構框圖 2．2．1矢量網絡分析儀源 2．2．2理解源匹配 2．2．3矢量網絡分析儀測試裝置 2．2．4定向器件 2．2．5矢量網絡分析儀接收機 2．2．6IF和數據處理 2．2．7多端口擴展 2．2．8大功率測試系統 2．3線性微波參數的矢量網絡分析儀測量 2．3．1S參數的線性測量方法 2．3．2使用矢量網絡分析儀進行功率測量 2．3．3矢量網絡分析儀的其他測量限制 2．3．4由外部元件引起的測量局限 2．4由S參數引申出的測量 2．4．1史密斯圓圖 2．4．2將S參數變換成其他阻抗 2．4．3級聯電路和T參數 2．5使用Y變換和Z變換的模型化電路 2．5．1反射變換 2．5．2傳輸變換 2．6其他線性參數 2．6．1Z參數或開環電路阻抗參數 2．6．2Y參數或短路導納參數 2．6．3ABCD參數 2．6．4H參數或混合參數 2．6．5復數變換和非等值參考阻抗 參考文獻 第3章校準和矢量誤差修正 3．1引言 3．2S參數的基本誤差修正：校準應用 3．2．112項誤差模型 3．2．2單端口誤差模型 3．2．38項誤差模型 3．3確定誤差項：12項模型的校準采集 3．3．1單端口誤差項 3．3．2單端口標準件 3．3．3二端口誤差項 3．3．412項誤差模型轉換成11項模型 3．4確定誤差項：8項模型的校準采集 3．4．1TRL標準和原始測量結果 3．4．2TRL校準的特殊情況 3．4．3未知通路或SOLR（互逆通路校準） 3．4．4未知通路校準的應用 3．4．5QSOLT校準 3．4．6電子校準或自動校準 3．5波導校準 3．6源功率校準 3．6．1為源頻率響應進行源功率校準 3．6．2功率計失配校準 3．6．3源功率線性度校準 3．7接收機功率校準 3．7．1一些歷史回顧 3．7．2現代接收機功率校準 3．7．3傳輸測試接收機的響應校正 3．8退化的校準 3．8．1響應校準 3．8．2增強型響應校準 3．9確定殘余誤差 3．9．1反射誤差 3．9．2使用空氣線確定殘余誤差 3．10計算測量不確定度 3．10．1反射測量的不確定度 3．10．2源功率的不確定度 3．10．3測量功率的不確定度（接收機不確定度） 3．11S21或傳輸不確定度 3．12相位誤差 3．13實際校準的限制 3．13．1電纜彎曲 3．13．2在校準后改變功率 3．13．3補償步進衰減器的變化 3．13．4連接器的一致性 3．13．5噪聲效應 3．13．6短期和長期漂移 3．13．7誤差項的內插 3．13．8校準質量：電子校準和機械校準件 參考文獻 第4章時域變換 4．1引言 4．2傅里葉變換 4．2．1連續傅里葉變換 4．2．2奇偶函數與傅里葉變換 4．2．3調制(頻移)定理 4．3離散傅里葉變換 4．3．1快速傅里葉變換和快速傅里葉逆變換 4．3

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